日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹

離線式測厚儀是臺(tái)式緊湊型測厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測量。由于測量是在自動(dòng)運(yùn)輸?shù)耐瑫r(shí)進(jìn)行的，因此任何人都可以輕松快速地進(jìn)行測量，并且不受測量者技能的影響是一大特點(diǎn)。
常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用。此外，由于測量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經(jīng)常用于充氣膜的制造現(xiàn)場。

型號：TOF-4R05

測量方法

測量對象：薄膜、片材

測量厚度：0.03 至 3 毫米

型號：TOF-5R01

測量方法

測量對象：膠片/膠卷

測量厚度：0.02-0.2毫米

型號：TOF-6R001

測量方法

測量對象：薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）

測量厚度：5-100微米

型號：TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號

測量方法

測量對象：薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜

測量厚度：~ 500 微米

型號：TOF-S

測量方法

測量對象：電子、光學(xué)用透明平滑膜、多層膜

測量厚度：1 至 50 μm（用于薄材料）
10 至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型號：TOF-M

測量方法

測量對象：鋼板或鋁板等金屬板

測量厚度：0.1-0.5毫米